Spieß, Lothar

 
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thumbnail of26579009 Charakterisierung von CVD-Hartstoffschichten auf Hartmetall, in: 44. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Schawohl, Jens; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Reich, Steffen; Böswetter, Gerd
Publicado: 1999
thumbnail of26596009 Nanostrukturierte Werkstoffe - Messnormale?, in: 44. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Spieß, Lothar; Knedlik, Christian
Publicado: 1999
thumbnail of26721009 Entwicklung von nanoskaligen Wolframkarbid-Schichtsystemen für funktionelle Oberflächen einer NPM-Maschine, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Auteur: Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Kups, T.; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Schaefer, Juergen A.; Knedlik, Christian
Publié: 2005
thumbnail of26703009 Development of a reference field for a NPM-machine, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Spieß, Lothar; Machleidt, Torsten; Cimalla, Volker; Gubisch, Maik; Ambacher, Oliver; Franke, Karl-Heinz
Publicado: 2005
thumbnail of26797009 Hydrogen microsensors based on NiO modified thin films, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Schawohl, Jens
Publicat: 2005
thumbnail of29299009 Growth and characterization of indium oxide films for ozone detection, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Hotovy, Ivan; Predanocy, Martin; Hotovy, Juraj; Kups, T.; Spieß, Lothar; Wang, Chunyu; Rehacek, Vlastimil
Publicat: 2008
thumbnail of29259009 Growth and characterization of ZnO thin films using XRD and AFM, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Auteur: Hotovy, Juraj; Kups, T.; Kovac, Jaroslav; Spieß, Lothar; Novotny, Ivan; Kovac, Jaroslav
Publié: 2008
 
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