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Lehmann, Peter

 
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Schreibweisen:
Lehmann, Peter
   
Sammlungen
Automatisierung ab 1950
Literatur
 
thumbnail of26528009 Einsatz von Specklekorrelationsverfahren zur Charakterisierung von technischen Oberflächen, in: 44. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Ciossek, Andreas; Peters, Jörg; Lehmann, Peter; Patzelt, Stefan; Goch, Gerd
Erschienen: 1999
thumbnail of29527009 Low coherent Linnik interferometer optimized for use in Nano Measuring Machines, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Niehues, Jan; Lehmann, Peter; Xie, Weichang
Erschienen: 2011
 
Permanentlinks
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