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Novotny, Ivan

 
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Schreibweisen:
Novotny, Ivan
   
Sammlungen
Automatisierung ab 1950
Literatur
 
thumbnail of29259009 Growth and characterization of ZnO thin films using XRD and AFM, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Hotovy, Juraj; Kups, T.; Kovac, Jaroslav; Spieß, Lothar; Novotny, Ivan; Kovac, Jaroslav
Erschienen: 2008
 
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