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Aktorintegrierte feinwerktechnische Funktionselemente, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Hackel, Tobias; Frank, Thomas; Lotz, Markus; Theska, René; Höhne, Günter
Erschienen: 2005
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Analyse der Lagefehler von rotierenden Geradsichtprismen und Methode für deren Justage, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Burbajev, A.; Latyev, Svjatoslav M.; Theska, René
Erschienen: 2005
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Extremer Leichtbau von Messspiegeln für die interferometrische Positionsmessung, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Frank, Thomas; Lotz, Markus; Hackel, Tobias; Theska, René; Höhne, Günter
Erschienen: 2005
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Konstruktionsprinzipien zum Entwurf von Nanopositioniermaschinen, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Lotz, Markus; Frank, Thomas; Hackel, Tobias; Höhne, Günter; Theska, René
Erschienen: 2005
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Positionierung im Sub-Micrometerbereich durch Einleitung mechanischer Impulse, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Cermann, Christian; Frank, Thomas; Theska, René
Erschienen: 2005
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A novel Function-Structure-approach exemplified by Selection of Gearless Drives, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Krol, J.; Erbe, Torsten; Ströhla, Tom; Theska, René
Erschienen: 2008
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Design Guidelines for Mineral Casting as a Material for Base-Frames of Precision-Machines, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Erbe, Torsten; Krol, J.; Theska, René
Erschienen: 2008
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Laboratory for automated assembly of microscope lenses, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Latyev, Svjatoslav M.; Jablotschnikow, E. I.; Padun, B. S.; Frolov, Dmitry N.; Tabachkov, A. G.; Theska, René; Zocher, Klaus-Peter
Erschienen: 2008
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Microscope Objectives for Semiconductor Metrology: Technology Driver for the Mounting Technology of Optical High Performance Systems with Small Diameters, in: IWK - Internationales wissenschaftliches Kolloquium // Technische Universität Ilmenau; Tagungsband, 53. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Sondermann, M.; Theska, René
Erschienen: 2008
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Topology optimization of a tetrahedron mirror for a high-precision measuring and positioning machine
Autor: Lotz, Markus; Gembus, Christian; Silva, Emilio Carlos Nelli; Theska, René; Silva, Emílio C. N.
Erschienen: 2008
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A Novel Approach to Optical Aberrations Correction in Laser Scanning Microscopy for Surface Metrology, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Ginani, L. S.; Theska, René
Erschienen: 2011
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Lens Mounts in Optical High Performance Systems with Small Diameters, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Sondermann, Mario; Scheibe, Hannes; Theska, René
Erschienen: 2011
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Novel approaches to reduce the uncertainty of torque standard machines for small torques, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Wagner, A.; Theska, René; Bitencourt, A. C. P.; Lepikson, Herman Augusto; Weingaertner, Walter Lindolfo
Erschienen: 2011
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The influence of asymmetric flexure hinges on the axis of rotation, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Linß, Sebastian; Erbe, Torsten; Theska, René; Zentner, Lena
Erschienen: 2011
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The Use of Deflecting Elements in Interferometric Applications – Advantages and Challenges, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: John, Kerstin; Theska, René; Erbe, Torsten
Erschienen: 2011
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