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Siewert, Frank

 
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Siewert, Frank
   
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Literature
 
thumbnail of26749009 Subnanometergenaue Messungen der Formabweichungen ausgedehnter, gering gekrümmter optischer Flächen für die Finish-Bearbeitung bis zu Genauigkeiten von < Lambda/1000, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Author: Lammert, Heiner; Siewert, Frank; Zeschke, Thomas
Published: 2005
thumbnail of29477009 High resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective X-ray optics, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Author: Siewert, Frank; Buchheim, Jana; Höft, T.; Fiedler, S.; Bourenkov, G.; Cianci, M.; Signorato, R.
Published: 2011
 
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