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Kütgens, U.


 
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Kütgens, U.
   
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thumbnail of29551009 Digital control of x-ray interferometers for measurement of sub nanometre errors in optical interferometers, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Yacoot, Andrew; Kütgens, U.
Publicado: 2011
 
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