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Signorato, R.

 
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Signorato, R.
   
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Automatización, desde 1950
Literatura
 
thumbnail of29477009 High resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective X-ray optics, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autor: Siewert, Frank; Buchheim, Jana; Höft, T.; Fiedler, S.; Bourenkov, G.; Cianci, M.; Signorato, R.
Publicado: 2011
 
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