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Cianci, M.

 
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Cianci, M.
   
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Letteratura
 
thumbnail of29477009 High resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective X-ray optics, in: 56. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autore: Siewert, Frank; Buchheim, Jana; Höft, T.; Fiedler, S.; Bourenkov, G.; Cianci, M.; Signorato, R.
Pubblicato: 2011
 
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