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Vertical nanopositioning of heavy mirrors
Auteur: Lotz, Markus; Hackel, Tobias; Frank, Thomas
Publié: 2008
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Extremer Leichtbau von Messspiegeln für die interferometrische Positionsmessung, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Auteur: Frank, Thomas; Lotz, Markus; Hackel, Tobias; Theska, René; Höhne, Günter
Publié: 2005
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Konstruktionsprinzipien zum Entwurf von Nanopositioniermaschinen, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Auteur: Lotz, Markus; Frank, Thomas; Hackel, Tobias; Höhne, Günter; Theska, René
Publié: 2005
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Positionierung im Sub-Micrometerbereich durch Einleitung mechanischer Impulse, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autore: Cermann, Christian; Frank, Thomas; Theska, René
Pubblicato: 2005
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Aktorintegrierte feinwerktechnische Funktionselemente, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Autore: Hackel, Tobias; Frank, Thomas; Lotz, Markus; Theska, René; Höhne, Günter
Pubblicato: 2005
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MORES® Match-X als Baukastenmodul für mikrofluidische Analysen, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Auteur: Frank, T.; Zöppig, Veit; Steinke, Arndt; Günther, Michael; Nieland, Sabine; Albrecht, Andreas; Albrecht, Arne; Frank, Thomas; Günther, Mike
Publié: 2005
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Strukturbildung beim Mikro-Sandstrahlen mit Maskierung, in: 50. IWK - Internationales Wissenschaftliches Kolloquium
Auteur: Bergmann, René; Kremin, Christoph; Albrecht, Arne; Frank, Thomas
Publié: 2005
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